Microspot XRF for metal finishingMikrofokus RFA Instrumente zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse bieten schnelle Qualitätskontrolle und Validierungstests in Galvanisierungs-, PVD and CVD -Prozessen. Bei der Messung von Kleinteilen, großen Baugruppen oder komplexen Komponenten liefern sie die richtigen Ergebnisse in Sekunden.

Schichtdickenanalyse, basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA), ist eine verbreitete und in der Industrie erprobte Analysetechnik. Sie bietet einfache Bedienung, schnelle und zerstörungsfreie Analyse mit geringer oder keiner Probenvorbereitung. Feste und flüssige Stoffe können über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U in der Periodentabelle analysiert werden.

Der optimierte Mikrofokusaufbau und die besonders intuitive Nutzeroberfläche vereinfachen die Routineanalytik um ein Vielfaches und ermöglichen einen hohen Probendurchsatz. Es wird sichergestellt, dass Nutzer mit geringer Erfahrung dieselben guten Ergebnisse erzielen, wie technisches Fachpersonal. Fortgeschrittene Nutzer profitieren von Funktionen, die es einfach machen, RFA-Spektren zu interpretieren, benutzerdefinierte Kalibrationen zu erzielen und unbekannte Materialien zu untersuchen. Die X-Strata, Eco und MAXXI Produktserien wurden speziell für die Analyse von Funktionsbeschichtungen entwickelt.

Over 1000 applications testedKorrosionsbeständigkeit

Überprüfung der Dicke und chemischen Zusammensetzung der Beschichtung, um die Funktionalität und Beständigkeit des Produkts in rauher Umgebung zu sichern, bequeme Analyse von kleinen Teilen und großen Baugruppen.

Verschleißfestigkeit

Vermeidung von Produktausfällen durch die Sicherung der Schichtdicke und Gleichmäßigkeit der kritischen Teile, die in rauher Umgebung eingesetzt werden. Analyse komplexer Formen, dünner oder dicker Schichten und von Endprodukten.

Metallveredelung

Für eine einwandfreie Verarbeitung ist die Qualitätskontrolle während des Produktionsprozesses von entscheidender Bedeutung. Mit den Oxford Instruments Messgeräten können Sie zuverlässig Basismaterialien überprüfen sowie Zwischen- und Deckschichten analysieren.

Hochtemperaturbeständigkeit

Oberflächenbehandlungen für Teile, die extremsten Bedingungen ausgesetzt sind, müssen innerhalb enger Toleranzen kontrolliert werden. Die Gewährleistung der Beschichtungseigenschaften vermeidet Rückrufe und Ausfälle.

MAXXI 6

MAXXI 6

X-Strata920

X-Strata920

MAXXI 5

MAXXI 5

MAXXI Eco

MAXXI Eco

COMPACT Eco

COMPACT Eco

Demo oder Angebot anfordern

Wie finde ich das passende Gerät?

1. Klicken Sie auf "Anwendungs- / Technologieleitfaden", wählen Sie die Applikation und die passende Technologie.
2. Öffnen Sie dann den Bereich "Produkte vergleichen". Sie sehen dort die entsprechenden Modelle.

Unsere Mikrofokus RFA Experten beantworten Fragen zu Ihren Anforderungen und unterstützen Sie bei der Auswahl passender Geräte. Anfrage starten

 

Anwendungs- / Technologieübersicht

 

  Proportionalzählrohr Halbleiter Hoch aufgelöster SDD
Zn / Fe, Fe Legierungen
Cr / Fe, Fe Legierungen
Ni / Fe, Fe Legierungen
✔✔ ✔✔✔
ZnNi / Fe, Fe Legierungen
ZnSn / Fe, Fe Legierungen
✔✔ ✔✔✔
NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al

(nur Schichtdicke)
✔✔
(nur Schichtdicke)
✔✔✔
(Schichtdicke & Zusammensetzung)
Ag / Cu
Sn / Cu
✔✔ ✔✔✔
Cr / Ni / Cu / ABS ✔✔ ✔✔✔
Au / Pd / Ni /CuZn ✔✔ ✔✔✔
WC / Fe, Fe Legierungen
TiN / Fe, Fe Legierungen
✔✔ ✔✔✔
Dünnschichtanalyse im nm-Bereich ✔✔✔
Mehrfachschichtenanalyse ✔✔ ✔✔✔
IEC 62321 RoHS Screening ✔✔✔

 

Modelle vergleichen

Proportionalzählrohrsysteme

  X-Strata 920 COMPACT Eco MAXXI Eco MAXXI 5
Elementbereich Ti - U Ti - U Ti - U Ti - U
Probenkammer Design1 Geschlitzt Geschlossen Geschlossen Geschlossen
XYZ-Probentischoptionen Fest installiert,
motorisiert 
Fest installiert,
manuelle Bedienung
Fest installiert,
manuelle Bedienung
Fest installiert,
motorisiert
Maximale Probengröße 270 x 500 x 150 mm 380 x 370 x 100 mm 470 x 500 x 170 mm 600 x 500 x 350 mm
Maximale Anzahl Kollimatoren 6 1 1 4
Kleinster Kollimator 0,01 x 0,25 mm
(0,5 x 10 mil)
0,3 mm (12 mil) 0,3 mm (12 mil) 0,1 mm (4 mil)
Software SmartLink X-Master X-Master X-Master

Demo oder Angebot anfordern

Halbleitersysteme

  COMPACT Eco PIN MAXXI Eco PIN MAXXI 5 PIN
Elementbereich Ti - U Ti - U Ti - U
Probenkammer Design1 Geschlossen Geschlossen Geschlitzt
XYZ-Probentischoptionen Fest installiert,
manuelle Bedienung
Fest installiert,
manuelle Bedienung
Fest installiert,
motorisiert
Maximale Probengröße 38,0 x 370 x 100mm 470 x 500 x 170 mm 600 x 500 x 350 mm
Maximale Anzahl Kollimatoren 1 1 4
Kleinster Kollimator 0,1 x 0,3 mm (4 x 12 mil) 0,1 x 0,3 mm (4 x 12 mil) 0,2 x 0,05 mm (8 x 2 mil)
Software X-Master X-Master X-Master

Demo oder Angebot anfordern

Hochauflösender SDD

  MAXXI 6
Elementbereich Al – U
Probenkammer Design1 Geschlitzt
XYZ-Probentischoptionen Fest installiert, motorisiert
Maximale Probengröße 500 x 450 x 170 mm
Maximale Anzahl Kollimatoren 4
Kleinster Kollimator 0,05 x 0,05 mm (2 x 2 mil)
Software SmartLink

Demo oder Angebot anfordern

1 – Die geschlitzte Probenkammer erlaubt die Analyse im Dauerbetrieb wie bei Kabel- oder Bandblechbeschichtung.

Produktbeschreibung

Alle Oxford Instruments Mikrofokus RFA Analysatoren entsprechen der ASTM B568 zur Messung von Einschicht- und Mehrfachschichten-Anwendungen, inklusive Legierungsschichten. Sie können für Galvanisierungsbäder oder für die Analyse von Legierungen kalibriert werden. Die X-Strata und MAXXI Messgeräte wurden zur Einbindung in die Qualitätskontrolle oder in Prozesskontrollprogramme sowie für Forschungslabore entwickelt.

MAXXI 6
 

Mit dem hochauflösenden, leistungsstarken Silizium-Drift-Detektor (SDD) ist der MAXXI 6 das ideale Instrument für die Analyse dünnster Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und die Spurenanalyse. Ausgestattet mit bis zu 6 Primärfiltern und 8 Kollimatoren, kann der MAXXI 6 anspruchsvollste Anwendungen bewältigen. Die extrem große, geschlitzte Probenkammer ist passend für kleine, große oder lange Proben. Die optimierte Hardware-Konfiguration ermöglicht die direkte Analyse von %P in Nickel-Phosphor-Anwendungen.

X-Strata 920
 

Den X-Strata 920 gibt es in drei Konfigurationsvarianten für eine Vielzahl von Proben, Formen und Größen. Die Standardprobenkammer ermöglicht eine schnelle Probenpositionierung von kleinen oder dünnen Teilen. Die Probenkammer mit höhenverstellbarem Probentisch ermöglicht die Messung unterschiedlichster Proben, von kleinen Teilen bis zu sehr großen Proben. Mit dem motorisierten XYZ-Tisch kann eine automatisierte Analyse von mehreren Proben oder mehreren Stellen an einer einzigen Probe durchgeführt werden. 

MAXXI 5
 

Der MAXXI 5 bietet die größte Probenkammer der Oxford Instruments Analysatoren. Konfigurierbar mit Proportionalzähler oder Halbleiterdetektor, ist der MAXXI 5 ein vielseitiges Instrument für Metallveredler, die mit Teilen verschiedenster Formen und Größen arbeiten. Mit dem optionalen motorisierten XYZ-Probentisch ist die richtige Positionierung der Proben und das Scannen für die Überprüfung der Beschichtungskonsistenz einfach.

COMPACT Eco und MAXXI Eco
 

Die Eco Serie ist mit einem Einzel-Kollimator ausgestattet und ermöglicht vereinfachte Kontrollen für hohen Probendurchsatz. Konfigurierbar mit  Proportionalzähler oder Halbleiterdetektor können einfache und komplexe Beschichtungsstrukturen gemessen werden. Der optionale manuelle XYZ-Probentisch ermöglicht eine leichtere Probenpositionierung. Für eine größere Probenkammer wählen Sie das MAXXI Eco.

ähnliche Produkte

X-MET8000 Serie - RFA Handgeräte

X-MET8000 Serie - RFA Handgeräte

Das Handspektrometer X-MET8000 ist das flexible, leicht zu bedienende RFA-Analyse-Handgerät für die anspruchsvollsten Anwendungen

Mikrofokus RFA PCB und Elektronik

Mikrofokus RFA PCB und Elektronik

Mikrofokus RFA Schichtdicken- und Materialanalysegeräte für die schnelle Qualitätskontrolle und Validatierungstests von PCB/PWB Veredelungen und die Beschichtung elektronischer Bauteile.