Alle Oxford Instruments Mikrofokus RFA Analysatoren entsprechen der ASTM B568 zur Messung von Einschicht- und Mehrfachschichten-Anwendungen, inklusive Legierungsschichten. Sie können für Galvanisierungsbäder oder für die Analyse von Legierungen kalibriert werden. Die X-Strata und MAXXI Messgeräte wurden zur Einbindung in die Qualitätskontrolle oder in Prozesskontrollprogramme sowie für Forschungslabore entwickelt.

MAXXI 6

Mit dem hochauflösenden, leistungsstarken Silizium-Drift-Detektor (SDD) ist der MAXXI 6 das ideale Instrument für die Analyse dünnster Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und die Spurenanalyse. Ausgestattet mit bis zu 6 Primärfiltern und 8 Kollimatoren, kann der MAXXI 6 anspruchsvollste Anwendungen bewältigen. Die extrem große, geschlitzte Probenkammer ist passend für kleine, große oder lange Proben. Die optimierte Hardware-Konfiguration ermöglicht die direkte Analyse von %P in Nickel-Phosphor-Anwendungen.

X-Strata 920

Den X-Strata 920 gibt es in drei Konfigurationsvarianten, um eine Vielzahl von Proben, Formen und Größen zu handhaben. Die Standardprobenkammer ermöglicht eine schnelle Probenpositionierung von kleinen oder dünnen Teilen. Die Probenkammer mit höhenverstellbarem Probentisch ermöglicht die Messung unterschiedlichster Proben, von kleinen Teilen bis zu sehr großen Proben. Der motorisierte XYZ-Tisch erlaubt die automatisierte Analyse von mehreren Proben oder mehreren Stellen an einer einzigen Probe.

Yale University Professors are giving some competition to Google and IBM in building the first quantum computer. Ou… https://t.co/93EDKNWUge
10:31 - 17 Nov 17
Weitere Tweets sehen