Oxford Instruments NanoAnalysis bietet die weltweit beliebtesten Lösungen für Materialcharakterisierung und Nanofertigung mit Scanning Elektron Mikroskopen (SEM), Fokussiertem Ionenstrahl (FIB) und Transmission Elektron Mikroskopen (TEM)

Kontaktieren Sie uns

  • Vertriebsteam

    +44 (0) 1494 442255

  • Supportteam

    +44 (0) 1494 442255

  • NanoAnalysis

    Online Anfrage

Mehr NanoAnalysis