Eine einfache Entscheidung...

...für das neue Schichtdickenmessgerät MAXXI 6!

  • Schnelle und zerstörungsfreie Analyse, fast ohne Probenvorbereitung
  • Weiter Elementbereich von 13AI bis zu 92U
  • Hochauflösender und leistungsstarker SDD für die Analyse dünnster Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und Spurenanalyse
  • 8-fach Blendenwechsler
  • Extrem große, geschlitzte Probenkammer
  • Anschluss an den PC über USB

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Prof. Paul Tasker presenting at the Microwave and Millimeter-wave GaN - Wafer to IC Workshop. GaN is at an exciting… https://t.co/c2Xc272NrU
10:02 - 25 Apr 18
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